便攜式智能測(cè)塵儀PCB抄板及樣機(jī)仿制簡(jiǎn)介
芯谷擁有十余年的反向技術(shù)研究經(jīng)驗(yàn),其研究對(duì)象涉及各領(lǐng)域的電子產(chǎn)品,現(xiàn)已有數(shù)百項(xiàng)儀器儀表設(shè)備成功案例,這是芯谷的又一成功案例。在遵守保密原則的前提下,現(xiàn)將部分資料公布如下:
便攜式智能測(cè)塵儀主要技術(shù)指標(biāo)
項(xiàng)目 測(cè)量范圍 準(zhǔn)確度 項(xiàng)目 測(cè)量范圍 準(zhǔn)確度
測(cè)量濃度 0.05~500mg/m3 ±2.5%F.S 斑點(diǎn)面積 0.5cm2 ±1.5%
采樣流量 5L/min ±3% 塵樣滿標(biāo)值 2.0mg/cm2 ±1.5%
β射線源 C14,半衰期5730年,
強(qiáng)度≤100微居 重復(fù)性 2.5%
存儲(chǔ)數(shù)據(jù) 200組
注:現(xiàn)誠(chéng)摯對(duì)外轉(zhuǎn)讓便攜式智能測(cè)塵儀其相關(guān)案例的全套技術(shù)資料并尋求項(xiàng)目合作,歡迎來(lái)電來(lái)訪咨詢、洽談!