雙光束紅外分光光度計(jì)PCB抄板及IC解密技術(shù)解析
芯谷專注于反向技術(shù)研究領(lǐng)域近二十年,以狼性的技術(shù)研究能力在業(yè)界著稱,現(xiàn)已成功破解了數(shù)萬件設(shè)備的技術(shù)密碼并實(shí)現(xiàn)了二次開發(fā),現(xiàn)已投入第一線使用的設(shè)備性能良好,仿真度高,受到了客戶的普遍好評。此案例是芯谷的成功案例之一,現(xiàn)將有關(guān)功能特點(diǎn)詳細(xì)介紹如下:
雙光束紅外分光光度計(jì)技術(shù)參數(shù)
※ 儀器主要數(shù)據(jù)處理功能
光譜背景基線記憶 光譜背景基線校正
光譜數(shù)據(jù)平滑運(yùn)算 光譜基線傾斜校正
光譜數(shù)據(jù)微分運(yùn)算 光譜數(shù)據(jù)四則運(yùn)算
光譜數(shù)據(jù)累加運(yùn)算 %T與ABS轉(zhuǎn)換
光譜文件管理 光譜縫值檢出
光譜刻度擴(kuò)展 光譜吸收擴(kuò)展
※ 波長范圍 4000-400cm-1
※ 波數(shù)精度 ≤± 4cm-1 (4000-2000cm-1 )
≤± 2cm-1 (2000-400cm-1)
※ 分辨能力 ≤1.5cm-1(1000cm-1)附近
※ 透過率精度 ±0.2%T(不含噪聲電平)
※ Io線平直度 ≤±2%T
※ 雜散光 ≤0.5%T(4000-650cm-1)
≤1%T(650-400cm-1)
※ 橫坐標(biāo)擴(kuò)展 任選
※ 縱坐標(biāo)擴(kuò)展 任選
※ 測試模式 三種(透過率、吸光度、單光束)
※ 掃描速度 五檔(很快、快、正常、慢、很慢)
※ 狹縫寬度 五檔(很寬、寬、正常、窄、很窄)
※ 響應(yīng) 四檔(很快、快、正常、慢)
※ 工作方式 三種(連續(xù)掃描、重復(fù)掃描、定波長掃描)
※ 電源 AC220V,50Hz
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