光時(shí)域反射儀是一種能夠準(zhǔn)確測(cè)量光纖傳輸特性的儀表，以便能發(fā)現(xiàn)光纖障礙或隱患，及時(shí)了解光纖傳輸情況，光時(shí)域反射儀根據(jù)光的后向散射與菲涅耳反向原理制作，利用光在光纖中傳播時(shí)產(chǎn)生的后向散射光來(lái)獲取衰減的信息，可用于測(cè)量光纖衰減、接頭損耗、光纖故障點(diǎn)定位以及了解光纖沿長(zhǎng)度的損耗分布情況等，是光纜施工、維護(hù)及監(jiān)測(cè)中必不可少的工具。
芯谷集成電路有限公司一直致力于更高更新科技的PCB抄板研究，光時(shí)域反射儀是芯谷眾多抄板成功案例之一，一下則是它的相關(guān)性能指標(biāo)介紹：
　　﹡業(yè)內(nèi)最好的光學(xué)技術(shù)指標(biāo)
　　﹡最高的動(dòng)態(tài)范圍（1550 nm 波長(zhǎng)為 50dB）
　　﹡最短的事件盲區(qū)（對(duì)于VLR模塊為 80cm）
　　﹡業(yè)內(nèi)最好的數(shù)據(jù)采樣速度
　　﹡快速而精確的故障查找
　　﹡快速檢測(cè)斷點(diǎn)／故障
　　﹡精確的故障定位
　　﹡一鍵式自動(dòng)測(cè)試
　　﹡無(wú)需特定的設(shè)置
　　﹡距離、損耗與ORL 測(cè)試
　　模塊參數(shù)
　　模 塊短距離模塊VSRE中距離模塊SRE長(zhǎng)距離模塊LR超長(zhǎng)距離模塊VHD
　　波 長(zhǎng)1310/1550nm
　?。?plusmn;20nm）1310/1550nm
　　（±20nm）1310/1550nm
　?。?plusmn;20nm）1550nm
　?。?plusmn;20nm）
　　脈沖寬度10ns to 10μs10ns to 10μs10ns to 20μs10ns to 30μs
　　動(dòng)態(tài)范圍31/2934/3243/4150
　　事件盲區(qū)0.8m0.8m0.8m0.8m
　　衰減盲區(qū)10m10m15m15m
　　作為一家長(zhǎng)期專注反向技術(shù)研究的高新技術(shù)型企業(yè)，芯谷可提供多種案例產(chǎn)品的整機(jī)克隆、功能樣機(jī)制作于調(diào)測(cè)、產(chǎn)品二次開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)、PCB批量代工等服務(wù)，協(xié)助廣大客戶進(jìn)行產(chǎn)品參考設(shè)計(jì)與技術(shù)研究應(yīng)用。目前，芯谷提供上述產(chǎn)品的全套技術(shù)資料，并同時(shí)承接仿制克隆與二次開(kāi)發(fā)項(xiàng)目合作，有意者請(qǐng)致電咨詢?cè)斍椤?/p>